介紹OMRON光電傳感器EE-SPY312調試步驟

技術(shù)數據：
檢測距離 2～5mm (反射率90%的白色紙15×15mm)
響應頻率 100Hz以上
受光面照度 白熾燈、太陽(yáng)光: 3000lx以下
（無(wú)結冰、結露）
非檢測距離 20mm以上/鋁蒸著(zhù)玻璃
動(dòng)作模式 遮光時(shí)ON
小檢測物體 φ0.05mm銅絲
應差 0.2mm以下 (檢測距離 3mm)
環(huán)境溫度范圍 使用時(shí): -10～55℃
保存時(shí): -25～65℃

反光板型光電開(kāi)關(guān)：
把發(fā)光器和收光器裝入同一個(gè)裝置內，在前方裝一塊反
發(fā)出的光源被反光板反射回來(lái)再被收光器收到;一旦被檢
光板，利用反射原理完成光電控制作用，稱(chēng)為反光板反
射式(或反射鏡反射式)光電開(kāi)關(guān)。正常情況下，發(fā)光器
測物擋住光路，收光器收不到光時(shí)，光電開(kāi)關(guān)就動(dòng)作，
輸出一個(gè)開(kāi)關(guān)控制信號。

實(shí)物圖：

三角測距：
距離設定型日本歐姆龍光電傳感器主要以三角測距為檢
測原理。下圖所示的是三角測距的原理。從投光元件投
元件）上成像。檢測物體在靠近光學(xué)系統的位置A的情
況下，反射光會(huì )在位置檢測元件的a位置上成像。在離光
射的光線(xiàn)將在檢測物體上擴散反射。反射光將通過(guò)受光
透鏡在位置檢測元件（輸出符合光線(xiàn)位置信號的半導體
學(xué)系統較遠的位置B的情況下，反射光將在b位置上成像
。因此，通過(guò)測定位置檢測元件上的成像位置，可以檢
測與檢測物體的距離。

介紹OMRON光電傳感器EE-SPY312調試步驟